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電子元器件

近年來國內外電子整機的失效統計顯示,元器件造成的失效占50%的比例。多年來一直居高不下,引起人們普遍關注。元器件本身及使用的可靠性提高對於整機可靠性的提高具有關鍵的作用。
檢測對象 測試項目 相應測試設備 型號
電子元器件 熱衝擊:
確定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產生的作用
冷熱衝擊箱 CTS係列/CTD係列
溫度循環:
確定光電子器件承受極高溫和極低溫度的能力,
以及極高溫度和極低溫度交替變化對電子器件的影響
高低溫箱 GDW係列
恒定濕熱:
確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規定的溫度和濕度
高低溫濕試驗箱 ITM-LHC-408L
高溫壽命:
確定光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命
高溫試驗箱 DHG係列
高溫加速老化:
加速老化過程中的最基本環境應力式高溫,在實驗過程中,
應定期監測選定的參數,直到退化超過壽命終止
可程式高溫試驗箱 ITM-1400L
恒溫試驗:
恒溫試驗與高溫運行試驗類似,應規定恒溫試驗樣品數量和允許失效數
恒溫恒濕試驗箱 GDJS係列
變溫試驗:
變化溫度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度
(例如:60℃、85℃和100℃)
快速溫變試驗箱 KTB係列